北京航空航天大学主页平台系统苏飞--中文主页-- Removal of AFM moiré Measurement Error due to Non-linear Scan and Creep of Probe. Journal of Nanotechnology, Vol.16 (9), pp 1681-1686 . 2005.

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Removal of AFM moiré Measurement Error due to Non-linear Scan and Creep of Probe. Journal of Nanotechnology, Vol.16 (9), pp 1681-1686 . 2005.

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合写作者： Liu Yu Chan, Wei Jun,Su Fei
是否译文：否

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