A Lifetime Reliability-Constrained Runtime Mapping for Throughput Optimization in Many-Core Systems
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发表刊物：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems (TCAD)
第一作者：Liang Wang, Ping Lv, Leibo Liu, Jie Han, Ho-fung Leung, Xiaohang Wang, Shouyi Yin, Shaojun Wei
论文类型：应用研究
一级学科：电子科学与技术
文献类型：期刊
卷号：38
期号：9
页面范围：1771-1784 (CCF A类期刊)
是否译文：否
CN号：null
发表时间：2019-09-01
收录刊物：SCI
发布期刊链接：
https://ieeexplore-ieee-org-s.vpn.buaa.edu.cn:8118/document/8410416/
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