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Novel Multistate Fault Diagnosis and Location Method for Key Components of High-Speed Trains
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发表刊物：IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2021, 68(4): 3537-3547.
合写作者：Shen, Yuan,Zhang, Guangjun
第一作者：Chang, Luonan
通讯作者：Liu, Zhen*
是否译文：否
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