北京航空航天大学主页平台系统屈玉福--计算成像技术实验室-- Yanyu Zhao, Yufu Qu. Extended depth of field for visual measurement systems with depth-invariant magnification. SPIE Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications II, 2012, (8563):1~8

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教授博士生导师硕士生导师
主要任职：测控与信息技术系党支部书记

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Yanyu Zhao, Yufu Qu. Extended depth of field for visual measurement systems with depth-invariant magnification. SPIE Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications II, 2012, (8563):1~8

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