Reliability-Enhanced Separated Pre-charge Sensing Amplifier for Hybrid CMOS/MTJ Logic Circuits
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发表刊物:IEEE Transactions on Magnetics
合写作者:Lang Zeng,Tianqi Gao,Fanghui Gong,Xiaowan Qin,Wang Kang,Yue Zhang,Youguang Zhang,Jacques Olivier Klein
第一作者:Deming Zhang
论文类型:基础研究
通讯作者:Weisheng Zhao
一级学科:电子科学与技术
文献类型:期刊
卷号:53
期号:9
页面范围:1-5
是否译文:否
CN号:null
发表时间:2017-09-01
收录刊物:SCI