Reliability-Enhanced Hybrid CMOS/MTJ Logic Circuit Architecture
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发表刊物:IEEE Transactions on Magnetics
合写作者:Lang Zeng,Youguang Zhang,Jacques-Olivier Klein
第一作者:Deming Zhang
论文类型:基础研究
通讯作者:Weisheng Zhao
一级学科:电子科学与技术
文献类型:期刊
卷号:53
期号:11
页面范围:1-5
是否译文:否
CN号:null
发表时间:2017-11-01
收录刊物:SCI