北京航空航天大学主页平台系统张悦--中文主页-- Weisheng Zhao, Yue Zhang, Thibault Devolder, Jacques-Olivier Klein, Dafiné Ravelosona, Claude Chappert and Pascale Mazoyer, “Failure and Reliability Analysis of STT-MRAM”, Microelectronics Reliability, vol.52, pp.1848-1852, 2012.

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个人信息

张悦

教授

教授博士生导师硕士生导师

电子邮箱：

所在单位：集成电路科学与工程学院

职务：Professor

学历：博士研究生

办公地点：新一馆219

主要任职：常务副院长、党委副书记

论文

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Weisheng Zhao, Yue Zhang, Thibault Devolder, Jacques-Olivier Klein, Dafiné Ravelosona, Claude Chappert and Pascale Mazoyer, “Failure and Reliability Analysis of STT-MRAM”, Microelectronics Reliability, vol.52, pp.1848-1852, 2012.

发布时间：2018-08-27 点击次数：

是否译文：否

上一条：Erya Deng, Yue Zhang, Jacques-Olivier Klein, Claude Chappert, Dafiné Ravelosona and Weisheng Zhao, “Low Power Magnetic Full-Adder based on Spin Transfer Torque MRAM”, IEEE Transactions on Magnetics, vol.49, pp.4982-4987, 2013.

下一条：Erya Deng, Yue Zhang, Wang Kang, Bernard Dieny, Jacques-Olivier Klein, Guillaume Prenat, Weisheng Zhao, “Synchronous 8-bit non-volatile full-adder based on spin transfer torque magnetic tunnel junction”, IEEE Transactions on Circuits and Systems I, vol. 62, pp. 1757-1765, 2015.