高成，北京航空航天大学可靠性与系统工程学院元器件质量保证中心，研究员，原元器件质量保证中心主任。主要研究方向：大规模集成电路电性能测试技术、安全性评价技术、寿命可靠性评价技术等。现主讲北航研究生课《元器件质量与可靠性工程基础》，主持和参加各类科研项目近20项，在国内外公开期刊、会议上发表论文30余篇，主持编写GF工业出版社出版《最新集成电路测试技术》、《元器件质量与可靠性工程基础》等教材2本；曾多次获校教学成果一等、二等奖，GF科技进步奖二等奖、三等奖，军队科技进步奖，校科技进步二等奖等奖励。