基于电子源/离子源发射和像差理论，解决扫描电子显微镜、透射电子显微镜、X射线显微分析和聚焦离子束(FIB)等国产科学仪器研制中高亮度电子枪、高分辨电磁透镜设计以及高精度控制等关键核心技术，实现纳米尺度观测及微纳米加工，对于国产高端科学仪器研制具有重要的科学意义和应用价值。
