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29.何益海，张安琪，解宇轩，张吉山，杨秀珍.基于QFD 分解和扩展RPN 值的产品制造可靠性退化根原因识别方法。专利号：202110355384.9,2021年4月1日，中华人民共和国国家知识产权局。
发布时间：2022-11-09 点击次数：
是否职务专利：否
上一条：28.何益海，王文卓，杨秀珍，张安琪，周迪.基于阶段任务网络的智能制造系统功能健康状态评估方法,专利号：202011503610.5，2020年12月18日，中华人民共和国国家知识产权局。
下一条：30.何益海，韩笑，周迪，李尧，杨秀珍.一种基于任务可靠度的多态制造系统剩余寿命预测方法。专利号：202110332077.9,2021年3月29日，中华人民共和国国家知识产权局。