北京航空航天大学主页平台系统郑征--北航郑征主页-- Zhang, X. Y., Zheng, Z., & Cai, K. Y. (2018). Exploring the usefulness of unlabelled test cases in software fault localization. Journal of Systems and Software, 136, 278-290.

+

个人信息

郑征

教授

教授博士生导师硕士生导师

电子邮箱：

所在单位：自动化科学与电气工程学院

学历：博士研究生

在职信息：在职

主要任职：副院长

同专业博导

同专业硕导

论文

当前位置: 北航郑征主页 >> 论文

Zhang, X. Y., Zheng, Z., & Cai, K. Y. (2018). Exploring the usefulness of unlabelled test cases in software fault localization. Journal of Systems and Software, 136, 278-290.

发布时间：2020-01-26 点击次数：

是否译文：否

下一条：Qin, F., Zheng, Z., Qiao, Y., & Trivedi, K. S. (2018). Studying aging-related bug prediction using cross-project models. IEEE Transactions on Reliability, 68(3), 1134-1153.